EMC測(cè)試又叫做電磁兼容，指的是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大小（EMI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一，對(duì)于電源適配器產(chǎn)品來(lái)說(shuō)同樣適用。目前，國(guó)際上通用的EMC標(biāo)準(zhǔn)主要是IEC1000—4，它包括脈沖型干擾方面的測(cè) 試，與電源質(zhì)量有關(guān)的測(cè)試項(xiàng)目，還包括電場(chǎng)敏感度測(cè)試和磁場(chǎng)敏感度測(cè)試，目前該標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)發(fā)展了20幾個(gè)分標(biāo)準(zhǔn)，而國(guó)際上常用的主要有這四種。

一、IEC1000—4—2 靜電放電

靜電放電抗擾度測(cè)試是檢驗(yàn)設(shè)備抗靜電的能力，同時(shí)也是檢驗(yàn)設(shè)備抗高頻干擾的能 力。

測(cè)試中的放電方法有兩種，一種是直接放電，另一種是間接放電(空氣放電)。直 接放電是將帶電探頭與被測(cè)試對(duì)象直接接觸，并產(chǎn)生放電，這種放電方式能量較大。間 接放電是使帶電探頭與被測(cè)試對(duì)象保持一定的距離(通過(guò)探頭結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn))，通過(guò)擊穿 空氣產(chǎn)生放電。測(cè)試次數(shù)一般是每個(gè)點(diǎn)10次。

二、IEC1000—4—3輻射電磁場(chǎng)

(1) 測(cè)試目的 輻射電磁場(chǎng)的抗擾度測(cè)試是檢驗(yàn)設(shè)備對(duì)空間電磁場(chǎng)的敏感程度。

(2) 測(cè)試方法 在暗室中用天線輻射一高頻正弦波，使受試設(shè)備處達(dá)到某一規(guī)定 的場(chǎng)強(qiáng)，以檢驗(yàn)設(shè)備對(duì)高頻的敏感程度。

(3)測(cè)試等級(jí) 輻射電磁場(chǎng)的測(cè)試分為三級(jí)，試驗(yàn)電壓分別為1V/m，3V/m和 10V/m。

(4) 測(cè)試頻率范圍 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定測(cè)試頻率范圍為80～1 000MHz。

.三、 IEC1000—4—4快速瞬變

(1) 測(cè)試目的 主要用于測(cè)試設(shè)備抗高頻脈沖和抗各種開(kāi)關(guān)引起的脈沖能力。

(2) 測(cè)試方法 用間歇式脈沖群對(duì)設(shè)備進(jìn)行放電實(shí)驗(yàn)，要求受檢測(cè)設(shè)備能夠正常 工作。

四、IEC1000—4—5浪涌抗擾度測(cè)試

(1) 測(cè)試目的 主要是測(cè)試設(shè)備抗雷擊和外界所引起的浪涌的能力。

(2) 測(cè)試方法 用一定電壓等級(jí)的脈沖通過(guò)耦合電容對(duì)設(shè)備進(jìn)行放電實(shí)驗(yàn)，要求 受檢測(cè)設(shè)備能夠正常工作而不被損壞。

(3) 測(cè)試等級(jí) 測(cè)試等級(jí)是指測(cè)試脈沖開(kāi)路電壓幅值，它主要分為0.5kV，1kV， 2kV，4kV和特定5個(gè)等級(jí)。

(4) 能量范圍 脈沖上升時(shí)間為1.2μs，脈沖寬度為50μs。

(5) 浪涌產(chǎn)生的主要危害 浪涌脈沖的能量比較大，會(huì)燒壞電源適配器元器件，降低絕緣性 能，影響設(shè)備正常工作。